От издателя
В книге приводится понятие устранимых ошибок, возникающих в ПЛИС типа ППВМ (FPGA — Field Programmable Gate Array) и графических процессорах. Рассматриваются радиационные эффекты в ПЛИС, отказоустойчивые методы для ПЛИС, применениесерийно выпускаемых ПЛИС в авиации и космонавтике, экспериментальные данные о воздействии радиации на ПЛИС, встроенные в ПЛИС процессоры под воздействием радиации и внесение ошибок в ПЛИС. Поскольку специализированная архитектурапараллельной обработки, как в случае графического процессора, стала более востребованной в авиации и космонавтике благодаря высоким вычислительным возможностям, также приводятся результаты анализа поведения графического процессора под воздействием радиации. Книга будет полезна не только инженерно-техническим работникам, занимающимся применениемсерийно выпускаемых ПЛИС в авиации, космонавтике, в приборостроении для транспорта и других критических важных областях народного хозяйства, но и магистрантам, обучающимся по направлению подготовки 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника», а также аспирантам, проходящим обучение по направлению подготовки 11.06.01 «Электроника, радиотехника и системы связи».
Вес: 485
Ширина упаковки: 200
Высота упаковки: 20
Глубина упаковки: 250
Тип издания: Отдельное издание
Тип обложки: Твердый переплет
Тираж: 300
Дополнительно
ISBN: 978-5-94836-513-8
Издательство: Техносфера
Год выпуска: 2018
Серия: Мир радиоэлектроники
